浅谈高压开关动特性测试仪的结构原理

高压开关动特性测试仪是用于校验高压开关测试仪时间测量功能的专业仪器，本文中将为大家介绍高压开关动特性测试仪的结构原理。

   高压开关动特性测试仪的总体结构主要包括微处理器、交/直流输入转换、模/数转换、识别电路、精密时基电路以及人机友好界面显示等部分，在硬件平台的基础上，配备的软件编辑，囊括了计算机技术、数字信号处理技术、检测技术等，能够的完成对高压开关动特性测试仪电量输出参量、开关动作时间参量等功能的校验工作。

     由测试仪总体结构图可知，该校验装置中主要通过两个处理通道来完成校验任务。一个是将电压信号输出送到衰减电路中，然后再送入A/D转换电路中，通过光耦再送到MCU中进行运算处理，后通过LCD显示结果，从而完成对高压开关动特性测试仪电量参量的校验。另外一个开关动作信号通过输入电路调整为本电路相匹配的信号，然后输送到识别电路，转换成MCU可以识别出的数字信号，经过光耦后由MCU进行运算处理，对处理后的结果执行相应动作，然后对外输出控制信号，以完成对开关动作时间参量的校验。人机友好界面主要包括液晶显示器和操作按键。